Kinija FCM2000W Kompiuterio tipas Metalografinių mikroskopų gamykla ir gamintojai |Chengyu

FCM2000W Kompiuterio tipas Metalografinis mikroskopas

Specifikacija

FCM2000W Įvadas

Kompiuterinis metalografinis mikroskopas FCM2000W yra trinokulinis apverstas metalografinis mikroskopas, naudojamas įvairių metalų ir lydinių medžiagų kombinuotai struktūrai nustatyti ir analizuoti.Jis plačiai naudojamas gamyklose ar laboratorijose liejimo kokybės identifikavimui, žaliavų tikrinimui arba po medžiagų apdorojimo.Metalografinės struktūros analizė ir kai kurių paviršiaus reiškinių, tokių kaip paviršiaus purškimas, tyrimo darbai;plieno, spalvotųjų metalų medžiagų, liejinių, dangų metalografinė analizė, geologijos petrografinė analizė, bei mikroskopinė junginių, keramikos ir kt. analizė pramonės srityje veiksmingos tyrimo priemonės.

Fokusavimo mechanizmas

Priimtas apatinės rankos padėties grubus ir tiksliai reguliuojamas bendraašio fokusavimo mechanizmas, kurį galima reguliuoti kairėje ir dešinėje pusėse, koregavimo tikslumas yra didelis, rankinis reguliavimas yra paprastas ir patogus, o vartotojas gali lengvai gauti aiškų vaizdą. ir patogus vaizdas.Grubus reguliavimo eiga yra 38 mm, o tikslaus reguliavimo tikslumas yra 0,002.

Mechaninė mobilioji platforma

Jis turi didelio masto 180 × 155 mm platformą ir yra nustatytas dešinėje padėtyje, o tai atitinka paprastų žmonių darbo įpročius.Naudotojui dirbant patogu perjungti fokusavimo mechanizmą ir platformos judesį, todėl vartotojams sukuriama efektyvesnė darbo aplinka.

Apšvietimo sistema

Epi tipo Kola apšvietimo sistema su kintamos diafragmos diafragma ir centrine reguliuojama lauko diafragma, pritaikyta plačios įtampos 100V-240V, 5W didelio ryškumo, ilgaamžiškumo LED apšvietimui.

FCM2000W Konfigūracijos lentelė

Konfigūracija		Modelis
Prekė	Specifikacija	FCM2000W
Optinė sistema	Baigtinės aberacijos optinė sistema	·
stebėjimo vamzdis	45° pakreipimas, trinokulinis stebėjimo vamzdelis, atstumo tarp vyzdžių reguliavimo diapazonas: 54-75 mm, spindulio padalijimo santykis: 80:20	·
okuliaras	Aukšto akies taško didelio lauko plano okuliaras PL10X/18mm	·
	Aukšto akies taško didelio lauko plano okuliaras PL10X/18mm, su mikrometru	O
	Aukšto akies taško didelio lauko okuliaras WF15X/13mm, su mikrometru	O
	Aukšto akies taško didelio lauko okuliaras WF20X/10mm, su mikrometru	O
Tikslai (Long Throw Plan Achromatic Objectives)	LMPL5X /0,125 WD15,5 mm	·
	LMPL10X / 0,25 WD8,7 mm	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8 mm	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1 mm	·
	LMPL100X/0.80 WD2.00mm	O
keitiklis	Vidinis padėties nustatymo keturių skylių keitiklis	·
keitiklis	Vidinis padėties nustatymo penkių skylių keitiklis	O
Fokusavimo mechanizmas	Koaksialinis fokusavimo mechanizmas, skirtas grubiai ir tiksliai reguliuoti žemoje rankos padėtyje.tikslaus reguliavimo tikslumas yra 0,02 mm	·
Scena	Trijų sluoksnių mechaninė mobili platforma, plotas 180 mmX155 mm, dešinės pusės valdymas žema ranka, eiga: 75 mm × 40 mm	·
darbo stalas	Metalinė scenos plokštė (centrinė skylė Φ12 mm)	·
Epi apšvietimo sistema	Epi tipo Kola apšvietimo sistema, su kintamos diafragmos diafragma ir centre reguliuojama lauko diafragma, prisitaikanti plati įtampa 100V-240V, vienas 5W šiltos spalvos LED lemputė, nuolat reguliuojamas šviesos intensyvumas	·
Epi apšvietimo sistema	Epi tipo Kola apšvietimo sistema, su kintamos diafragmos diafragma ir centre reguliuojama lauko diafragma, prisitaikanti plati įtampa 100V-240V, 6V30W halogeninė lempa, nuolat reguliuojamas šviesos intensyvumas	O
Poliarizuojantys priedai	Poliarizatoriaus plokštė, fiksuota analizatoriaus plokštė, 360° besisukanti analizatoriaus plokštė	O
spalvų filtras	Geltoni, žali, mėlyni, matiniai filtrai	·
Metalografinės analizės sistema	JX2016 metalografinės analizės programinė įranga, 3 milijonų fotoaparatų įrenginys, 0,5X adapterio objektyvo sąsaja, mikrometras	·
kompiuteris	HP verslo lėktuvas	O

Pastaba：“· "standartinis"O“neprivaloma

JX2016 programinė įranga

"Profesionali kiekybinė metalografinių vaizdų analizės kompiuterinė operacinė sistema", sukonfigūruota metalografinių vaizdų analizės sistemos procesais ir surinktų pavyzdinių žemėlapių palyginimo, aptikimo, įvertinimo, analizės, statistikos ir išvesties grafinių ataskaitų realiuoju laiku.Programinė įranga integruoja šiuolaikinę pažangią vaizdo analizės technologiją, kuri yra puikus metalografinio mikroskopo ir intelektualios analizės technologijos derinys.DL/DJ/ASTM ir kt.).Sistema turi visas kiniškas sąsajas, kurios yra glaustos, aiškios ir lengvai valdomos.Po paprasto apmokymo arba vadovaudamiesi naudojimo instrukcija galite laisvai juo naudotis.Ir tai yra greitas metalografinio sveiko proto išmokimo ir operacijų populiarinimo metodas.

JX2016 programinės įrangos funkcijos

Vaizdo redagavimo programinė įranga: daugiau nei dešimt funkcijų, tokių kaip vaizdų gavimas ir vaizdų saugojimas;

Vaizdo programinė įranga: daugiau nei dešimt funkcijų, tokių kaip vaizdo pagerinimas, vaizdo perdanga ir kt.;

Vaizdo matavimo programinė įranga: daugybė matavimo funkcijų, tokių kaip perimetras, plotas ir procentinis turinys;

Išvesties režimas: duomenų lentelės išvestis, histogramos išvestis, vaizdo spausdinimo išvestis.

Specialūs metalografijos programinės įrangos paketai:

Grūdų dydžio matavimas ir įvertinimas (grūdų ribos ištraukimas, grūdų ribos rekonstrukcija, vienfazis, dvifazis, grūdelių dydžio matavimas, įvertinimas);

Nemetalinių intarpų (įskaitant sulfidus, oksidus, silikatus ir kt.) matavimas ir įvertinimas;

Perlito ir ferito kiekio matavimas ir įvertinimas;kaliojo ketaus grafito mazgiškumo matavimas ir įvertinimas;

Dekarbonizacinio sluoksnio, karbonizuoto sluoksnio matavimas, paviršiaus dangos storio matavimas;

Suvirinimo gylio matavimas;

Feritinio ir austenitinio nerūdijančio plieno fazinio ploto matavimas;

Pirminio silicio ir didelio silicio turinčio aliuminio lydinio eutektinio silicio analizė;

Titano lydinio medžiagų analizė... ir tt;

Palyginimui yra beveik 600 dažniausiai naudojamų metalinių medžiagų metalografiniai atlasai, atitinkantys daugumos metalografinės analizės ir tikrinimo vienetų reikalavimus;

Atsižvelgiant į nuolat didėjantį naujų medžiagų ir importuojamų medžiagų kiekį, į programinę įrangą neįvestas medžiagas ir vertinimo standartus galima pritaikyti ir įvesti.